JIS K0162-2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
作者:标准资料网
时间:2024-05-04 08:54:06
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【英文标准名称】:Surfacechemicalanalysis--X-rayphotoelectronspectroscopy--Descriptionofselectedinstrumentalperformanceparameters
【原文标准名称】:表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
【标准号】:JISK0162-2010
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2010-04-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:12P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
【标准号】:JISK0162-2010
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2010-04-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:12P;A4
【正文语种】:日语
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