IEEE 660-1986 半导体存储器测试图语言
作者:标准资料网
时间:2024-05-21 07:58:52
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【英文标准名称】:Semiconductormemorytestpatternlanguage
【原文标准名称】:半导体存储器测试图语言
【标准号】:IEEE660-1986
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1986
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数据处理;计算机软件;程序设计;半导体;半导体存储器;信息处理
【英文主题词】:programming;semiconductorstorage;computersoftware;semiconductors;informationprocessing;dataprocessing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:35_080
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体存储器测试图语言
【标准号】:IEEE660-1986
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1986
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数据处理;计算机软件;程序设计;半导体;半导体存储器;信息处理
【英文主题词】:programming;semiconductorstorage;computersoftware;semiconductors;informationprocessing;dataprocessing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:35_080
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语
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