IEEE 660-1986 半导体存储器测试图语言

作者:标准资料网 时间:2024-05-21 07:58:52   浏览:8627   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductormemorytestpatternlanguage
【原文标准名称】:半导体存储器测试图语言
【标准号】:IEEE660-1986
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1986
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数据处理;计算机软件;程序设计;半导体;半导体存储器;信息处理
【英文主题词】:programming;semiconductorstorage;computersoftware;semiconductors;informationprocessing;dataprocessing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:35_080
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语


下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Insulating,sheathingandcoveringmaterialsforlowvoltageenergycables-Part4-2:PVCcoveringcompounds;GermanversionEN50363-4-2:2005
【原文标准名称】:低压电缆用绝缘、铠装和包覆材料.第4-2部分:PVC包覆复合板
【标准号】:DINEN50363-4-2-2006
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2006-10
【实施或试行日期】:2006-10-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K15
【国际标准分类号】:29_035_20
【页数】:9P.;A4
【正文语种】:德语


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part21:Solderability
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第21部分:可焊性
【标准号】:IEC60749-21-2004
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2004-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;试验;尺寸;杂质;电学测量;气候;外观检查(试验);表面安装设备;钎焊;半导体;表面安装;电子设备及元件;环境试验;软钎焊性;集成电路;电子工程;环境;模拟;耐力;温度变化;半导体器件;电气工程;气候试验;温度;组件
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语